實用型德國OPTRIS高精度短波紅外熱像儀

實用型德國OPTRIS高精度短波紅外熱像儀

Optris PI 1M是一款短波紅外熱像儀，擅長對挑戰性物體進行非接觸熱成像，能夠準確測量熱金屬、鋼材、陶瓷和半導體的表面溫度。Optris PI 1M熱成像儀特別適用于金屬加工應用中的溫度測量。在1微米的短波測量波長下，其發射率明顯高于傳統紅外長波范圍內的測量值。熱像儀的快速傳感器電子設備使其反應時間短至1毫秒，這在可視化熱過程的同時實現了精確測量。該熱像儀通過USB接口和模擬及數字過程接口，實現了與控制系統和制造過程的無縫集成。

• 高動態CMOS探測器，分辨率高達764 x 480像素

• 1微米光譜靈敏度

• 寬測量范圍，從450°C到1800°C，無需子范圍

• 高達1 kHz幀速率，適用于快速過程

• 模擬和數字輸出，響應時間為1毫秒

• 具有線掃描功能

Optris PI 1M 是一款短波紅外熱像儀，融合了創新、經濟實惠和高精度，特別擅長非接觸式熱成像測量。該熱像儀在短波紅外范圍內運行（1M：0.85 – 1.1μm），專為捕捉精確的表面溫度數據而設計，適用于熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體等材料。它以廣泛的高溫測量范圍、精確度和可定制的視場配置，滿足了各行業的嚴格需求。

許多非光亮材料的測量對象在長波光譜范圍內表現出高且相對恒定的發射率，而金屬和光亮材料在長波紅外波長下通常具有低發射率，導致測量結果不穩定且不可靠。Optris PI 1M 專為金屬基增材制造應用而設計，并且可以選配濾波片，使其非常適合幾乎所有的激光加工應用。

PI 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數金屬材料的最高發射率一致，簡化了遠程溫度測量。根據普朗克輻射定律，短波范圍內發射的紅外輻射顯著增多，從而減少了線性發射率問題對溫度測量重復性的影響。這增強了使用 PI 1M 紅外熱像儀時金屬材料溫度測量的可靠性和準確性。因此，對于高溫下光亮材料的非接觸溫度測量，建議盡可能使用短波紅外熱像儀，因為它們具有更廣的溫度測量范圍，更適合光亮表面。PI 1M 紅外熱像儀在德國精心設計和制造，以滿足苛刻工業應用的需求，其精度、準確性和重復性都優于長波紅外熱像儀，是高性能溫度測量。

PI 1M 紅外熱像儀不僅提供高分辨率的熱成像能力，還能在廣泛的溫度范圍內（450°C 至 1800°C）捕捉溫度數據而無需分段測量。其出色的距離到斑點尺寸比，即使在較遠的距離拍攝圖像時也能確保準確的溫度測量。這些技術規格使其在各種工業環境中進行精確溫度分析的強大工具，提供寶貴的洞察力并促進明智的決策。

紅外熱像儀提供多種幀率和子圖像選項，以適應不同的應用需求。在 764 x 480 像素分辨率下，它以 32 Hz 的幀率運行，確保詳細成像。切換到 382 x 288 像素時，幀率提高到 80 Hz，適合清晰捕捉快速移動的物體。對于快速應用（如監控溫度變化），它可以在 72 x 56 像素分辨率下以 1 kHz 的幀率運行。

此外，熱像儀支持 764 x 8 像素的寬子圖像模式，在 1 kHz 的幀率下，特別適合于線掃描應用。這種多功能性使其能夠精確監控連續線上的溫度，非常適合各種工業和研究應用。

紅外熱像儀通過 USB 接口無縫連接到計算機。此外，Optris PI 1M 通過 PIX Connect 軟件許可證提供高級軟件功能，如線掃描和圖像合并。這款軟件包對那些希望將經濟實惠的紅外熱像儀與強大的熱圖像處理和溫度數據收集平臺相結合的研究人員和工藝工程師來說是無價的。開發工具包也可供集成商開發特定應用的軟件解決方案。

此外，PI 1M 紅外熱像儀兼容多種專為嚴苛環境設計的配件。這些配件包括延長熱像儀操作溫度范圍至 315°C 的水冷外殼。此外，還提供空氣凈化裝置以保持鏡頭清潔，確保即使在灰塵環境中也能連續進行溫度測量。

配合這些功能的還有機械安裝配件、電氣接口和連接電纜，提供全面且具有吸引力價格的兼容配件組合。這種兼容性增強了 PI 1M 的多功能性和適應性，使其能夠輕松地集成到各種設置和應用中。